Простий
пошук
Розширений
пошук
Покажчики
Професійний
пошук
Рубрикатор
НБУВ
Розподілений
пошук

Бази даних

Наукова періодика України - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (5)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій


Пошуковий запит: (<.>A=Yampolskiy A$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 4
Представлено документи з 1 до 4
1.

Kirichenko V. G. 
The structure of monoatomic layer on graphite surface [Електронний ресурс] / V. G. Kirichenko, A. A. Yampolskiy // East european journal of physics. - 2016. - Vol. 3, Num. 4. - С. 78-82. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/eejph_2016_3_4_11
Monatomic surface layers of graphite were simulated on the basis of experimental data, which was obtained by scanning tunneling electron microscopy of atomically smooth surface of graphite. Values of relative deviation of the electron density were defined in the direction perpendicular to the plane of the layer. Increase in the degree of waviness layer to 2 nm are observed by increasing of linear dimensions under review graphite surface area of up to 25 nm. These results are confirmed by the data available for the graphene layers, which is caused by waviness defect. Indeed, defects such as vacancies and interstitial carbon atom are formed by increasing the number of cells to the surface layer up to 20.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.947 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
2.

Yampolskiy A. L. 
Ellipsometry of hybrid noble metal-dielectric nanostructures [Електронний ресурс] / A. L. Yampolskiy, O. V. Makarenko, L. V. Poperenko, V. O. Lysiuk // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2018. - Vol. 21, № 4. - С. 412-416. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2018_21_4_16
Angular ellipsometric measurements of thin Ag, Cu films covered by HfO2 protective layer were performed. The ellipsometric parameters <$Epsi> and <$EDELTA> were measured in <$Etheta~=~43~-~85 symbol Р> light incidence angle range, where <$Epsi> is the azimuth of restored linear polarization, <$EDELTA> is the phase shift between p- and s-components of reflected light. For comparison, thin Au film (traditional sensor for surface plasmon resonance (SPR)) was examined as well. The curve <$EDELTA ( theta )> for all the samples investigated falls down with increasing angle of light incidence, while <$Epsi ( theta )> changes relatively weakly. It has been ascertained that the increase in the thickness of HfO2 layer affects the tan(<$Epsi>) value, while tan(<$Epsi>) deviation is mainly determined by the type of metallic film. With the growth of HfO2 layer, the minimum position of tan(<$Epsi>) shifts to smaller angles. From these angular dependences, one could choose the appropriate SPR-compatible structure due to maximal deviation of tan(<$Epsi>). To optimize layer thickness for a high SPR-response, spectral measurements and additional calculations are required.
Попередній перегляд:   Завантажити - 526.003 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
3.

Makarenko O. V. 
Ellipsometric diagnostics of a transient surface layer in optical glass [Електронний ресурс] / O. V. Makarenko, L. V. Poperenko, O. I. Zavalistyi, A. L. Yampolskiy // Ukrainian journal of physics. - 2019. - Vol. 64, № 5. - С. 442-447. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Ukjourph_2019_64_5_11
Попередній перегляд:   Завантажити - 665.683 Kb    Зміст випуску     Цитування
4.

Makarenko O. V. 
Mueller polarimetry of discontinuous gold films [Електронний ресурс] / O. V. Makarenko, A. L. Yampolskiy, V. V. Lendiel, L. V. Poperenko, V. O. Lysiuk // Semiconductor physics, quantum electronics & optoelectronics. - 2019. - Vol. 22, № 3. - С. 338-342. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MSMW_2019_22_3_14
The problem of controlling morphology of discontinuous gold films by the method of optical angular Mueller-polarimetry has been considered. A set of the samples of such films with different amounts of sputtered metal has been fabricated and studied. The reference structure control was carried out by atomic force microscopy and measurement of the film resistivity. In this paper, only 4 elements of the upper left minor of the Mueller matrix have been discussed. It has shown that clear correlation between these elements and the amount of sputtered metal takes place. The two diagonal elements increase with the growth of the metal layer, while the other two demonstrate non-monotonic behavior. The dependences on the angle of light incidence for the diagonal elements are monotonic, and for the non-diagonal ones are opposite. The obtained results may be explained by the features of light scattering in the vicinity of the percolation threshold of an island gold film.
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.399 Mb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського